НОЦ «Нанотехнологии»: оборудование
Нанотехнологический комплекс NT-MDT НаноФаб-100 (2011)
Сканирующий электронный микроскоп TESCAN MIRA3 LMU (2019)
Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM 6510-LV (2011)
Зондовый микроскоп NT-MDT NTegra Aura
Оборудование для пробоподготовки к электронной микроскопии
Оборудование для электрических измерений дискретных устройств и интегральных схем
В состав комплекса входят:
- Модуль магнетронного распыления
- Модуль вторично-ионного масс-спектрометра
- Модуль ионной имплантации
- Модуль сухого плазмохимического травления
Сканирующий электронный микроскоп TESCAN MIRA3 LMU (2019)
Микроскоп включает в себя:
- Рентгеновский энерго-дисперсионный спектрометр (EDS)
- Систему анализа картин электронной дифракции (EBSD)
- Детектор катодолюминесценции (CL)
- Столик Пельтье в сочетании с режимом низкого вакуума и напуска паров воды
Сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM 6510-LV (2011)
В состав входят:
- Рентгеновский энерго-дисперсионный спектрометр (EDS)
- Литографическая приставка
Зондовый микроскоп NT-MDT NTegra Aura
- Атомно-силовая микроскопия
- Туннельная микроскопия
- Возможность работы в вакууме
Оборудование для пробоподготовки к электронной микроскопии
- Система автоматического напыления углеродных покрытий JEOL JEC-570
- Система автоматического напыления металлических покрытий Quorum Q 150R
Оборудование для электрических измерений дискретных устройств и интегральных схем
- Осциллографы (в т.ч. 4-х-канальный осциллограф Tektronix TDS2024С)
- Источник-измеритель тока-напряжения Keithley 2400
- Генератор импульсов произвольной формы Tektronix AFG3052C
- Пикоамперметр Keithley 6485